半導體測試設備領導者愛德萬測試發表多功能NEO-SSD平台，
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，揮軍高階PCI Express（PCIe）3.0 NVMe企業級/消費性應用固態硬碟（SSD）測試市場，
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，愛德萬以此平台為基礎開發了一系列測試解決方案，
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，預定於今年第4季開始向客戶出貨，
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，此NEO-SSD平台可隨需設定，
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，支援多種通訊協定，
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，具備各種SSD系統等級測試功能，包括工程驗證、設計驗證、可靠性驗證與生產測試。
根據預估到2017年時，SSD的市場規模將成長5倍，數量將超過2億，目前SSD在市場上的推廣應用仍處於初期發展階段，裝置通訊協定與測試策略也還在調整中，因此必須仰賴具備高效能和彈性的有效測試解決方案。NEO-SSD平台採用愛德萬測試的Tester-per-DUT 獨立架構，可讓客戶根據本身的特別需求平衡成本與效能，這套系統可支援各種大小的被測設備，例如硬碟、介面卡以及各種通訊協定，包括PCIe 3.0介面。
愛德萬表示，隨資料中心、桌面電腦、Ultrabook與行動電子裝置的匯排流應用標準興起，PCIe造成測試市場來不及因應，因為它需要多種版本的新通訊協定支援（如PCIe NVMe、AHCI、UFS與SAS），這些需求必須透過高效多通訊協定測試解決方案，才能以高延展性與經濟效益達成大量量產高品質SSD的目標。，